Thickness Meter
Distributor Resmi Desktop XRF EDX2000A Automatic Micro-area Film Thickness Analyzer Spectrometer Drawell Ready Stock
Deskripsi Produk
Desktop XRF EDX2000A Automatic Micro-area Film Thickness Analyzer merupakan spektrometer X-ray fluorescence canggih yang dirancang khusus untuk pengukuran ketebalan lapisan film dan analisis elemen pada area mikro secara presisi. Dilengkapi dengan sistem pemosisian otomatis dan detektor sensitivitas tinggi, alat ini mampu menganalisis berbagai jenis pelapisan logam hingga sampel berukuran sangat kecil tanpa merusak material. Teknologi EDXRF yang terintegrasi memastikan hasil pengujian yang cepat, akurat, dan andal untuk pengujian non-destruktif. Alat ini sangat ideal digunakan pada laboratorium kontrol kualitas, industri elektronik, manufaktur PCB, serta fasilitas elektroplating.
Spesifikasi Teknis
| Brand & Model | Drawell EDX2000A |
|---|---|
| Metode Analisis | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
| Fungsi Utama | Pengukuran Ketebalan Lapisan & Analisis Elemen Area Mikro |
| Rentang Analisis Elemen | Na hingga U (Sodium hingga Uranium) |
| Batas Deteksi Ketebalan | Hingga 0.005 mikron (tergantung jenis lapisan) |
| Tipe Detektor | Silicon Drift Detector (SDD) / Si-PIN Detector |
| Pengamatan Sampel | Kamera CCD Resolusi Tinggi dengan Autofokus |
| Meja Sampel | Meja Kerja Otomatis Tiga Aksis (X-Y-Z Stage) |
| Antarmuka & Software | Software Analisis Khusus EDXRF via USB |
| Catu Daya | AC 220V 50/60Hz |
.webp)
